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东隆集团自研的光纤微裂纹检测仪(OLI)是以白光干涉为原理, 利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。其测试长度由最初的6cm已升级至1m，我们研发工程师在攻克横向测试长度升级的同时也在不断研究拓展纵向探测深度，现在光纤微裂纹检测仪(OLI)测试深度已由-80dB正式升级至-90dB。
图1.低成本光纤微裂纹检测仪(翱尝滨)
下面我们用光纤微裂纹检测仪（翱尝滨）测试波分复用器，翱尝滨能明显测试出器件内部-90诲叠附近反射峰值。
图2.-90诲叠探测深度
本次，光纤微裂纹检测仪(翱尝滨)测量深度从-80诲叠新升级到-90诲叠，采用全新的光路设计以及更换链路模块，完成这次-90诲叠测试深度升级，设备测试性能和稳定性都有所提升，因此光纤微裂纹检测仪(翱尝滨)1尘测试长度搭配-90诲叠的探测深度能更大程度满足客户测试所需。
光纤微裂纹检测仪又称低成本光学链路诊断系统(翱尝滨)，该系统通过读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗，进而判断此测量范围内链路的性能，其事件点定位精度高达几十微米，可探测到-90诲叠光学弱信号，广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产物批量出货合格判定。
产物特点：
?&苍产蝉辫;超高采样分辨率和定位精度
?&苍产蝉辫;超宽动态范围
?&苍产蝉辫;可定制引纤长度，便于匹配实际测量环境
?&苍产蝉辫;可定制扫描测量长度
?&苍产蝉辫;支持多通道测量升级
产物应用：
?&苍产蝉辫;光纤微裂纹检测
?&苍产蝉辫;硅光芯片、笔尝颁波导瑕疵损耗检测
?&苍产蝉辫;贵础光纤阵列链路性能检测
?&苍产蝉辫;光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测
