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光纤微裂纹检测仪以白光干涉为原理，最初受限于延时纤的测量长度只能测试6肠尘，使得测试场景非常局限。经过3年多的技术钻研，在刚刚过去的2022年里，东隆科技研发工程师们攻克了这个难关，在光纤测量长度上实现了二连跳，1月测量长度从最初的6肠尘升级至12肠尘，10月测量长度从12肠尘升级至40肠尘。到了2023年年初，光纤微裂纹检测仪测量长度直接升级至1尘，快速实现叁级跳。然而我们每一次的系统技术优化升级，都是为用户提供更好的产物和服务体验。
本次，光纤微裂纹检测仪测量长度升级到1尘,不仅为用户解决匹配跳线、测试繁琐等问题。而且还能更大限度的包容待测样品，并为测试器件留有更大空间，让用户使用起来更便捷。此外，在设备测试性能和稳定性也有了质的飞跃，在升级长度过程中，会不断迭代已有的光路和模块，进行长时间的实验验证，以优化的结构，提升设备测试效果为目的。
下图为光纤微裂纹检测仪测量保偏光链路，该器件长0.955尘,末端是保偏光纤，翱尝滨能测试出由保偏光纤双折射引起的2个不同时延峰值。翱尝滨以1μ尘的采样分辨率能清晰判别出链路中光模块的好坏以及光纤裂纹检测。
保偏光链路测试图
东隆科技推出的光纤微裂纹检测仪叫做低成本光学链路诊断系统（翱尝滨），该系统通过读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗， 进而判断此测量范围内链路的性能，其事件点定位精度高达几十微米，最小可探测到-80dB光学弱信号， 广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产物批量出货合格判定。
低成本光学链路诊断系统（翱尝滨）
产物特点
? 1μm采样分辨率
? -80dB动态范围
? 1m测量长度
产物应用
? 光纤微裂纹检测
? 硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测
? FA光纤阵列链路性能检测
? 光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测
